BSDF: Bidirectional Scattering Distribution Function

Algemeen

Met dat meetstation kunnen we het ruimtelijk reflectie- en transmissiepatroon van een materiaal spectraal opmeten bij een belichtingsgeometrie naar keuze. Het is ook mogelijk om met die meetopstelling het spectrum en het stralingspatroon van leds op te meten.

Werking

Het toestel bestaat uit drie delen: de belichting, het optisch gedeelte, en het detectiegedeelte. De belichting bestaat uit een Xe lamp (250W). Deze genereert een parallelle bundel die door het optisch gedeelte op het uit te meten sample wordt gericht. Het optisch gedeelte bevat alle optische componenten nodig om het sample te belichten, evenals de samplehouder. Het sample kan via deze houder manueel rond twee assen (horizontaal en vertikaal) gedraaid worden, zodat om het even welke licht invalsrichting kan ingesteld worden. Het detectiegedeelte omvat ten eerste een rotatiearm die eveneens rond twee assen kan gedraaid worden (automatisch). Zo kan gelijk welke detectiehoek ingesteld worden. Aan het uiteinde van de rotatiearm bevindt zich de detector. Vanuit de detector wordt het gedetecteerde signaal via een glasvezelbundel overgebracht naar een spectrograaf met CCD-detector. Deze twee componenten zorgen ervoor dat alle metingen spectrale informatie verschaffen.

Specificaties

  • Xe lichtbron (250W)
  • Filterwiel met 3 ND filters: dynamisch bereik > 6 decades
  • Spectrograaf met CCD-detector: radiometrische metingen
  • Golflengte-interval VIS CCD-detector: 360 – 800 nm (uitbreidbaar)
  • Golflengte-interval NIR CCD-detector: 800 - 1300nm
  • Spectrale bandbreedte: 3.5 nm
  • Volledige 3D bereik (BRDF en BTDF)
  • Hoekresolutie: 1.8°
De volledige BSDF-opstelling
Detail van de BSDF-opstelling (vanuit perspectief 1)
Detail van de BSDF-opstelling (vanuit perspectief 2)
De 3D-arm met camera